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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Evento (Conference Proceedings)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Efxaa
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/11.23.09.45
Última Atualização2020:08.10.14.59.09 (UTC) simone
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/11.23.09.45.45
Última Atualização dos Metadados2022:09.14.19.58.58 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-11569-PRE/6955
Rótuloself-archiving-INPE-MCTIC-GOV-BR
Chave de CitaçãoHoshida:2004:ObCaFi
TítuloObtenção e Caracterização de Filmes Finos para Aplicações em Células Solares e Dispositivos de Aplicações Espaciais
FormatoPapel
Ano2004
Data de Acesso18 maio 2024
Tipo SecundárioPRE CN
Número de Arquivos1
Tamanho508 KiB
2. Contextualização
AutorHoshida, Lilian
GrupoLAS-INPE-MCT-BR
AfiliaçãoUNIVAP, Bolsista PIBIC/CNPq
Nome do EventoSeminário de Iniciação Científica do INPE (SICINPE).
Localização do EventoSão José dos Campos
Data03 e 04 de ago. 2004
Editora (Publisher)INPE
Cidade da EditoraSão José dos Campos
Páginas1-16
Título do LivroAnais
OrganizaçãoInstituto Nacional de Pesquisas Espaciais
Histórico (UTC)2004-12-29 11:23:25 :: sergio -> administrator ::
2006-11-09 18:51:17 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:31 :: sergio -> administrator ::
2015-04-29 14:26:24 :: administrator -> marciana :: 2004
2018-03-09 15:46:41 :: marciana -> administrator :: 2004
2018-06-05 01:21:07 :: administrator -> marciana :: 2004
2020-04-27 14:26:06 :: marciana -> simone :: 2004
2020-08-10 14:59:10 :: simone -> administrator :: 2004
2022-09-14 19:58:58 :: administrator -> simone :: 2004
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
ResumoEste trabalho, iniciado em agosto de 2003, teve como objetivo o estudo de camadas anti-refletoras para células solares. Sendo o silício um dos materiais mais utilizados na fabricação de células, com índice de refração compreendido entre 3,5 e 4,0 para fótons do espectro solar, isto implica numa reflexão de cerca de 35% da luz que incide numa superfície polida de silício. Essa reflexão é um dos fatores de perda que contribuem para uma diminuição do rendimento das células solares e, com o uso de camadas anti-refletoras, pode-se minimizar essa perda. Essas camadas são filmes finos depositados sobre o silício, cuja espessura é de um quarto de comprimento de onda, na região de máxima densidade de fótons do espectro solar que incide sobre a superfície terrestre. Para este trabalho, camadas anti-refletoras de SiO2 foram obtidas através de evaporação por feixe de elétrons utilizando o equipamento "electron beam" Auto 306 e, superfícies de silício poroso, preparadas por ataque químico e anodização, também foram analisadas para possível utilização como camadas anti-refletoras. As amostras foram caracterizadas utilizando-se as técnicas de fotoluminescência, microscopia eletrônica de varredura, refletância e medida das de espessuras através de um perfilômetro. Os resultados foram comparados entre si e também com amostras de outros tipos de camadas já existentes no laboratório, como por exemplo: Ta2O5 e superfícies texturizadas. Uma camada foi depositada sobre a superfície de uma célula solar e medidas de corrente por tensão da célula foram realizadas, antes e depois da deposição para analisar o aumento no rendimento da célula. E para dar continuidade neste trabalho, falta o desenvolvimento, caracterização e otimização de mais algumas camadas anti-refletoras e também, a confecção e caracterização de lâminas de silício implantadas com nitrogênio por IIIP.
ÁreaFISMAT
Arranjourlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Obtenção e Caracterização...
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4. Condições de acesso e uso
URL dos dadoshttp://urlib.net/ibi/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Efxaa
URL dos dados zipadoshttp://urlib.net/zip/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Efxaa
Idiomapt
Arquivo AlvoHoshida_obtencao.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
sergio
simone
Grupo de Leitoresadministrator
simone
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
8JMKD3MGPDW34P/478H998
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/mtc-m16c/2022/07.08.19.51.42 2
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
NotasBolsa PIBIC/INPE/CNPq
Campos Vaziosarchivingpolicy archivist callnumber contenttype copyright creatorhistory descriptionlevel dissemination doi e-mailaddress edition editor electronicmailaddress isbn issn keywords lineage mark mirrorrepository nextedition numberofvolumes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readpermission resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark serieseditor session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype type url versiontype volume
7. Controle da descrição
e-Mail (login)simone
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